產品詳情
Agilent E7405A EMC分析儀提供您所需的EMC分析儀功能，使內部EMI預符合性測試成為現實。早期評估設計的EMI性能對于成功的產品至關重要。HP/Agilent E7405A EMC標準分析儀為您提供 * 佳價值，內置更多生產力選項。
當與寬帶天線結合使用時，E7405A能夠檢查來自DUT的輻射。這 * 好在沒有反射物體的區域進行，例如開放區域或EMI室。
通過線路阻抗穩定網絡(LISN)設備或吸收鉗將E7405A儀器耦合到電源線或數據線，測試電源線或數據線上的噪聲或干擾。
如果有排放問題，可以使用E7405A和11940A或11941A近場探頭來隔離和診斷問題的根源。
惠普安捷倫E7405A的其他特性和規格包括:
頻率范圍:9千赫至26.5千兆赫
1 Hz至5 MHz(包括200 Hz、9 kHz、120 kHz和1 MHz EMI帶寬)
+12.5 dBm TOI
= 150 dBm顯示平均噪聲級(DANL)
+45 dBm二次諧波失真(SHI)
自動EMI測量
與安捷倫E7415A EMI軟件兼容
原木掃描
內置前置放大器
可選跟蹤發生器
SCPI編程和IVI COM驅動程序支持
堅固、便攜的設計
當與寬帶天線結合使用時，E7405A能夠檢查來自DUT的輻射。這 * 好在沒有反射物體的區域進行，例如開放區域或EMI室。
通過線路阻抗穩定網絡(LISN)設備或吸收鉗將E7405A儀器耦合到電源線或數據線，測試電源線或數據線上的噪聲或干擾。
如果有排放問題，可以使用E7405A和11940A或11941A近場探頭來隔離和診斷問題的根源。
惠普安捷倫E7405A的其他特性和規格包括:
頻率范圍:9千赫至26.5千兆赫
1 Hz至5 MHz(包括200 Hz、9 kHz、120 kHz和1 MHz EMI帶寬)
+12.5 dBm TOI
= 150 dBm顯示平均噪聲級(DANL)
+45 dBm二次諧波失真(SHI)
自動EMI測量
與安捷倫E7415A EMI軟件兼容
原木掃描
內置前置放大器
可選跟蹤發生器
SCPI編程和IVI COM驅動程序支持
堅固、便攜的設計
